WEKO3
アイテム
Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices
http://hdl.handle.net/10087/12326
http://hdl.handle.net/10087/12326ecf104f2-2371-4ea7-a921-810bba1b57bb
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2018-12-19 | |||||
著者 |
Peter, SARSON
× Peter, SARSON |
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タイトル | ||||||
タイトル | Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | アナログ/ミクスト信号集積回路テスト技術の開発 – 半導体デバイスのテストでの品質・信頼性向上とコスト低減 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | LSI Test | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | LSI試験 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | Semiconductor | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 半導体 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | Analog Circuit | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | アナログ回路 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | Mixed-Signal IC | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | ミックスト信号集積回路 | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||
資源タイプ | doctoral thesis | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | open access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
著者(ヨミ) | ||||||
姓名 | ピーター, サーソン | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 学位記番号:理工博乙11号 | |||||
書誌情報 | 発行日 2018-11-30 | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 群馬大学大学院理工学府 | |||||
資源タイプ | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | Thesis or Dissertation | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 博士(理工学) | |||||
学位授与機関 | ||||||
学位授与機関名 | 群馬大学 | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 2018-11-30 | |||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 乙第11号 | |||||
更新日 | ||||||
値 | 2019-11-27 |