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  1. 50 工学研究科
  2. 5006 電気電子工学専攻
  3. 学術雑誌論文

Spectroscopic investigation of light-emitting porous silicon photoetched in aqueous HF/I2 solution

http://hdl.handle.net/10087/2944
http://hdl.handle.net/10087/2944
3ad5506f-3fe6-4940-a336-cc6772d6c2ce
名前 / ファイル ライセンス アクション
JApplPhys_102_063506.pdf JApplPhys_102_063506.pdf (776.4 kB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2008-02-29
タイトル
タイトル Spectroscopic investigation of light-emitting porous silicon photoetched in aqueous HF/I2 solution
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 Adachi, Sadao

× Adachi, Sadao

Adachi, Sadao

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Oi, Mitsuru

× Oi, Mitsuru

Oi, Mitsuru

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 The optical properties of porous silicon (PSi) photoetched in aqueous HF/I2 solution are\ninvestigated using spectroellipsomety (SE), electroreflectance (ER), photovoltage (PV),\nphotoconductivity (PC), photoluminescence (PL), and Fourier transform infrared (FTIR)\nspectroscopy. The PSi layers were formed in a HF/I2 solution on n-Si substrates under Xe lamp\nillumination. The SE ε(E) and related data show an interference oscillation in the region below\nE~3 eV, where the PSi material is nearly transparent. The PV and PC spectra reveal three\nindividual peaks A, B, and C at ~1.2, ~1.7, and ~2.5 eV, respectively, arising from the PSi layer\nitself. Peak C is also observed in the ER spectrum, together with a broadened E1 peak at ~3.4 eV.\nChange in the fundamental-absorption-edge nature (EgX) from the indirect gap in crystalline silicon\nto the quasidirect gap in PSi is found in the PV and PC spectra. The PL spectrum shows a broad\npeak at ~2.0 eV(B). Peaks A, B, and C observed in the PSi layer may originate from the nondirect\noptical transitions at and above the lowest absorption edges EgX (A and B) and EgL (C). The\nquantum-mechanical size effect, i.e., a relaxation of the momentum conservation, makes possible\nthe nondirect or quasidirect transitions at and above EgX and EgL in porous materials. The FTIR data\nsupport that the PL emission is due to the surface-sensitive quantum confinement effect.
書誌情報 Journal of Applied Physics

巻 102, 号 6, p. 063506-1-063506-9, 発行日 2007-09-15
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0021-8979
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 info:doi/10.1063/1.2778745
権利
権利情報 (C)2007 American Institute of Physics
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
出版者
出版者 American Institute of Physics
資源タイプ
内容記述タイプ Other
内容記述 Journal Article
異版である
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ URI
関連識別子 http://jap.aip.org/
更新日
日付 2017-03-27
日付タイプ Created
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Ver.1 2023-06-19 12:58:28.403626
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