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アイテム
電子・電子同時計測における制御システムの開発
http://hdl.handle.net/10087/825
http://hdl.handle.net/10087/8256c8b5a88-3949-4cb5-b8b3-dd879270d334
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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公開日 | 2007-03-07 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 電子・電子同時計測における制御システムの開発 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Development of a Control System over Electron-Electron Coincidence Measurements | |||||
著者 |
糸井, 勇人
× 糸井, 勇人× 釜田, 重徳× 高野, 勝昌× 奥沢, 誠 |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | We have developed a system controlling over an electron-electron coincidence spectrometer consisting of two hemispherical analyzers, an x-ray source, and an electron gun. It has been confirmed, by measuring x-ray- and electron-excited Auger-electron spectra and x-ray photoelectron spectra, that this control system works reliably. Using the system, a distribution curve, leading to an Auger-photoelectron coincidence spectrum, has been measured for the time intervals between an Auger-electron and a photoelectron in Auger-photoelectron pairs, at the L3WAuger and 2p3/2 photoelectron peaks in nickel. | |||||
書誌情報 |
群馬大学教育学部紀要. 自然科学編 巻 48, p. 61-74, 発行日 2000 |
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ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 0017-5668 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00068497 | |||||
フォーマット | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | application/pdf | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 群馬大学教育学部 | |||||
資源タイプ | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | Departmental Bulletin Paper | |||||
更新日 | ||||||
日付 | 2017-03-27 | |||||
日付タイプ | Created |